Kaedah ujian untuk kapasitor tetap

1. Pengesanan kapasitor kecil di bawah 10pf: Oleh kerana kapasiti kecil kapasitor tetap di bawah 10pf, dengan menggunakan multimeter untuk pengukuran hanya boleh memeriksa kebocoran, litar pintas dalaman, atau fenomena pecahan. Apabila mengukur, multimeter dengan julat R × 10K boleh digunakan, dan dua probe boleh disambungkan ke sama ada pin kapasitor. Nilai rintangan mestilah tak terhingga. Jika nilai rintangan (penunjuk berayun ke kanan) adalah sifar, ia menunjukkan bahawa kapasitor rosak oleh kebocoran atau kerosakan dalaman.
2. Ujian kapasitor tetap dengan 10pf ~ 001 μ F: Dengan menentukan sama ada terdapat fenomena pengecasan, kualiti boleh dinilai. Multimeter ditetapkan kepada gear R × 1K. Nilai beta kedua -dua transistor adalah melebihi 100, dan arus penembusan harus kecil. 3DG6 dan model triod silikon lain boleh digunakan untuk membentuk transistor komposit. Probe merah dan hitam multimeter masing -masing disambungkan ke emitter E dan pengumpul C tiub komposit. Oleh kerana kesan penguatan transistor komposit, proses pengecasan dan pelepasan kapasitor yang diukur dikuatkan, yang meningkatkan amplitud penunjuk multimeter dan memudahkan pemerhatian.
Harus diingat bahawa semasa operasi ujian, terutamanya apabila mengukur kapasitor dengan kapasiti yang lebih kecil, pin kapasitor yang diuji harus berulang kali bertukar ke titik hubungan A dan B untuk melihat dengan jelas ayunan penunjuk multimeter. Untuk kapasitor tetap di atas 001 μ F, julat R × 10K multimeter boleh digunakan untuk menguji secara langsung sama ada kapasitor mempunyai proses pengecasan dan sama ada terdapat litar pendek atau kebocoran dalaman. Kapasiti kapasitor boleh dianggarkan berdasarkan amplitud penunjuk berayun ke kanan.